FICHA TÉCNICA DE EQUIPOS
NIT. 800.067.737-1
MICROSCOPIO SPIDE WIDE 10X
| TIPO DE EQUIPO | MARCA | MODELO |
| MICROSCOPIO | SPI WIDE STAND MICRO | 10X |
| TAMAÑO INSTRUMENTO | PESO | RANGO DE MEDIDA |
| H:17 CM – A:6 CM | 313 GR | 1.20 mm |
| ACCESORIOS | ||
| LINTERNA | ||
CARACTERÍSTICAS DEL EQUIPO:
| GRADUACION DA | AUMENTO | CAMPO DE VISION |
| .0005″/0.01mm | 100X | 1.45 mm |
| TAMAÑO MINIMO ESCALA | APARIENCIA NUMERICA | DISTANCIA DE TRABAJO |
| 0.01 mm | 0.19” | 5.7 mm |
El microscopio PEAK de pedestal ancho es un microscopio simple de medición, diseñado para ser compacto y ligero como los microscopios normales de pedestal, pero que se caracteriza por tener un más amplio campo de visión. Le permite obtener no solamente una vista grandemente aumentada de los patrones finos de una muestra u objeto, sino puede también usarse para medir la longitud y comparar dimensiones utilizando la escala incluida en el ocular.
El aumento del ocular es 10X, y va provisto de una escala en su plano focal. En las cinco distintas versiones (aumentos) de este producto, se usa el mismo ocular. Debido al tipo Huygens de fabricación con el plano focal dentro del sistema de lentes, se minimiza la contaminación de la escala con partículas de polvo. El lente que se encuentra más cerca de ojo en el sistema del ocular, se mueve rotando un anillo de ajuste que le permite traer la escala a foco, de acuerdo con el poder dióptrico del usuario.
FICHA TÉCNICA DE EQUIPOS
NIT. 800.067.737-1
MICROSCOPIO SPI WIDE 300X
| TIPO DE EQUIPO | MARCA | MODELO |
| MICROSCOPIO | SPI WIDE STAND MICRO | 30X |
| TAMAÑO INSTRUMENTO | PESO | RANGO DE MEDIDA |
| H:17 CM – A:6 CM | 394 GR | 0.40 mm |
| ACCESORIOS | ||
| LINTERNA | ||
CARACTERÍSTICAS DEL EQUIPO:
El microscopio PEAK de pedestal ancho es un microscopio simple de medición, diseñado para ser compacto y ligero como los microscopios normales de pedestal, pero que se caracteriza por tener un más amplio campo de visión. Le permite obtener no solamente una vista grandemente aumentada de los patrones finos de una muestra u objeto, sino puede también usarse para medir la longitud y comparar dimensiones utilizando la escala incluida en el ocular.
| DISTANCIA DE TRABAJO | AUMENTO | CAMPO DE VISION |
| 4.0 mm | 300X | 0.48 mm |
| TAMAÑO MINIMO ESCALA | APARIENCIA NUMERICA | ………………. |
| 0.001 | 0.4” | ………………. |
El aumento del ocular es 30X, y va provisto de una escala en su plano focal. En las cinco distintas versiones (aumentos) de este producto, se usa el mismo ocular. Debido al tipo Huygens de fabricación con el plano focal dentro del sistema de lentes, se minimiza la contaminación de la escala con partículas de polvo. El lente que se encuentra más cerca de ojo en el sistema del ocular, se mueve rotando un anillo de ajuste que le permite traer la escala a foco, de acuerdo con el poder dióptrico del usuario
FICHA TÉCNICA DE EQUIPOS
NIT. 800.067.737-1
MICROSCOPIO PEAK
| TIPO DE EQUIPO | MARCA | MODELO |
| MICROSCOPIO PEAK | PEAK | 2008-75 |
| TAMAÑO INSTRUMENTO | PESO | RANGO DE MEDIDA |
| 63 X 172 MM | 83 GR | 1.0 MM |
| ACCESORIOS | ||
| N.A | ||
CARACTERÍSTICAS DEL EQUIPO:
Los microscopios de pedestal PEAK son de tamaño pequeño, ligero y convenientemente portátil. El «kit» consiste en el cuello negro que se pone y quita libremente, lo que aumenta la facilidad de operación una fuente de estilo pluma muy ligera, que utiliza dos baterías tipo AAA (no incluidas). El microscopio de pedestal es ideal para usarse en una amplia variedad de diferentes ambientes industriales y académicos
| FOCO | AUMENTO | CAMPO DE VISION |
| SI | 75 X | 1,1 MM |
| TAMAÑO MINIMO ESCALA | LENTE | ………….. |
| 0,01 MM | VIDRIO | ………….. |
FICHA TÉCNICA DE EQUIPOS
NIT. 800.067.737-1
MICROSCOPIO POR REPLICA SADT
| TIPO DE EQUIPO | MARCA | MODELO |
| MICROSCOPIO METALOGRAFÍA POR REPLICA | SADT | SM – 500 |
| TAMAÑO INSTRUMENTO | PESO | RANGO DE MEDIDA |
| H:21CM A:10 CM L:15CM | 1.3 KG | O.50 MM |
| ACCESORIOS | ||
| OCULARES: 10X, 12.5X, 15X, 20X – OBJETIVOS : 40/ 0.5 Y 10/0.25- REQUERIMIENTO DE ENERGÍA: ENTRADA 110V – SALIDA 15V | ||
CARACTERÍSTICAS DEL EQUIPO:
Microscopio portátil, diseñado para realizar ensayo metalográfico y análisis de fallas, con soportes magnéticos para acople en superficie ferrosa, muy práctico para metalografía por replica.